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[특집-기술위원회] TC 217 - 화장품(Cosmetics)스위스 제네바에 본부를 두고 있는 국제표준화기구(ISO)에서 활동 중인 기술위원회(Technical Committeee, TC)는 TC 1~TC 323까지 구성돼 있다.기술위원회의 역할은 기술관리부가 승인한 작업범위 내 작업 프로그램 입안, 실행, 국제규격의 작성 등이다. 또한 산하 분과위원회(SC), 작업그룹(WG)을 통해 기타 ISO 기술위원회 또는 국제기관과 연계한다.ISO/IEC 기술작업 지침서 및 기술관리부 결정사항에 따른 ISO 국제규격안 작성·배포, 회원국의 의견 편집 등도 처리한다. 소속 분과위원회 및 작업그룹의 업무조정, 해당 기술위원회의 회의 준비도 담당한다.1947년 최초로 구성된 나사산에 대한 TC 1 기술위원회를 시작으로 순환경제를 표준화하기 위한 TC 323까지 각 TC 기술위원회의 의장, ISO 회원, 발행 표준 및 개발 표준 등에 대해 살펴볼 예정이다.이미 다룬 기술위원회와 구성 연도를 살펴 보면 △1947년 TC 1~67 △1948년 TC 69 △1949년 TC 70~72 △1972년 TC 68 △1950년 TC 74 △1951년 TC 76 △1952년 TC 77 △1953년 TC 79, TC 81 △1955년 TC 82, TC 83 △1956년 TC 84, TC 85 △1957년 TC 86, TC 87, TC 89 △1958년 TC 91, TC 92 △1959년 TC 94 △1960년 TC 96, TC 98 △1961년 TC 101, TC 102, TC 104 등이다.또한 △1962년 TC 105~107 △1963년 TC 108~111 △1964년 TC 112~115, TC 117 △1965년 TC 118 △1966년 TC 119~122 △1967년 TC 123 △1968년 TC 126, TC 127 △1969년 TC 130~136 △1970년 TC 137, TC 138, TC 142, TC 145 △1971년 TC 146~150, TC 153 △1972년 TC 154 △1973년 TC 155 △1974년 TC 156~161 △1975년 TC 162~164 등도 포함된다.그리고 △1976년 TC 165, TC 166 △1977년 TC 167, TC 168, TC 170 △1978년 TC 171~174 △1979년 TC 176, TC 178 △1980년 TC 180, TC 181 △1981년 TC 182 △1983년 TC 183~186 △1984년 TC 188 △1985년 TC 189~191 △1988년 TC 192~194 △1989년 TC 195 △1990년 TC 197, TC 198 △1991년 TC 199, TC 201, TC 202 △1992년 TC 204~206 △1993년 TC 209 △1994년 TC 210, TC 211 △1996년 TC 213, TC 214 등이 있다.ISO/TC 217 화장품(Cosmetics)과 관련된 기술위원회는 TC 215, TC 216과 마찬가지로 1998년 결성됐다. 사무국은 이란 국가 표준기구(Iran National Standards Organization, INSO)에서 맡고 있다.위원회는 엘햄 가세미(Mrs Elham Ghasemi)가 책임지고 있다. 현재 의장은 울리 오스터발더(Mr Uli Osterwalder)이며 임기는 2025년 말까지다. ISO 기술 프로그램 관리자는 웬얀 리(Ms Wenyan Li), ISO 편집 관리자는 마사 카산토산(Mrs Martha Casantosan) 등이다.범위는 화장품 제품 분야의 표준화다. 현재 ISO/TC 217 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준은 49개며 ISO/TC 217 사무국의 직접적인 책임 하에 개발 중인 표준은 3개다. 참여하고 있는 회원은 43개국, 참관 회원은 30개국이다.□ ISO/TC 217 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준 49개 중 15개 목록▷ISO 4973:2023 Cosmetics — Microbiology — Quality control of culture media and diluents used in cosmetics standards▷ISO 10130:2009 Cosmetics — Analytical methods — Nitrosamines: Detection and determination of N-nitrosodiethanolamine (NDELA) in cosmetics by HPLC, post-column photolysis and derivatization▷ISO 11930:2019 Cosmetics — Microbiology — Evaluation of the antimicrobial protection of a cosmetic product▷ISO 11930:2019/Amd 1:2022 Cosmetics — Microbiology — Evaluation of the antimicrobial protection of a cosmetic product — Amendment 1▷ISO 12787:2011 Cosmetics — Analytical methods — Validation criteria for analytical results using chromatographic techniques▷ISO/TR 14735:2013 Cosmetics — Analytical methods — Nitrosamines: Technical guidance document for minimizing and determining N-nitrosamines in cosmetics▷ISO 15819:2014 Cosmetics — Analytical methods — Nitrosamines: Detection and determination of N-nitrosodiethanolamine (NDELA) in cosmetics by HPLC-MS-MS▷ISO 16128-1:2016 Guidelines on technical definitions and criteria for natural and organic cosmetic ingredients and products — Part 1: Definitions for ingredients▷ISO 16128-2:2017 Cosmetics — Guidelines on technical definitions and criteria for natural and organic cosmetic ingredients — Part 2: Criteria for ingredients and products▷ISO 16128-2:2017/Amd 1:2022 Cosmetics — Guidelines on technical definitions and criteria for natural and organic cosmetic ingredients — Part 2: Criteria for ingredients and products — Amendment 1▷ISO 16212:2017 Cosmetics — Microbiology — Enumeration of yeast and mould▷ISO 16212:2017/Amd 1:2022 Cosmetics — Microbiology — Enumeration of yeast and mould — Amendment 1▷ISO 16217:2020 Cosmetics — Sun protection test methods — Water immersion procedure for determining water resistance▷ISO/TR 17276:2014 Cosmetics — Analytical approach for screening and quantification methods for heavy metals in cosmetics▷ISO 17516:2014 Cosmetics — Microbiology — Microbiological limits□ ISO/TC 217 사무국의 직접적인 책임 하에 개발 중인 표준 3개 목록▷ISO/AWI 22176 Cosmetics — Analytical methods — Development of a global approach for validation of quantitative analytical methods▷ISO/DIS 23675 Cosmetics — Sun protection test methods — In Vitro determination of Sun Protection Factor (SPF)▷ISO/DIS 23698 Cosmetics — Measurement of the sunscreen efficacy by diffuse reflectance spectroscopy
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[특집-기술위원회] TC 202 - 미세선속 분석(Microbeam analysis)스위스 제네바에 본부를 두고 있는 국제표준화기구(ISO)에서 활동 중인 기술위원회(Technical Committeee, TC)는 TC 1~TC 323까지 구성돼 있다.기술위원회의 역할은 기술관리부가 승인한 작업범위 내 작업 프로그램 입안, 실행, 국제규격의 작성 등이다. 또한 산하 분과위원회(SC), 작업그룹(WG)을 통해 기타 ISO 기술위원회 또는 국제기관과 연계한다.ISO/IEC 기술작업 지침서 및 기술관리부 결정사항에 따른 ISO 국제규격안 작성·배포, 회원국의 의견 편집 등도 처리한다. 소속 분과위원회 및 작업그룹의 업무조정, 해당 기술위원회의 회의 준비도 담당한다.1947년 최초로 구성된 나사산에 대한 TC 1 기술위원회를 시작으로 순환경제를 표준화하기 위한 TC 323까지 각 TC 기술위원회의 의장, ISO 회원, 발행 표준 및 개발 표준 등에 대해 살펴볼 예정이다.이미 다룬 기술위원회와 구성 연도를 살펴 보면 △1947년 TC 1~TC 67 △1948년 TC 69 △1949년 TC 70~72 △1972년 TC 68 △1950년 TC 74 △1951년 TC 76 △1952년 TC 77 △1953년 TC 79, TC 81 △1955년 TC 82, TC 83 △1956년 TC 84, TC 85 △1957년 TC 86, TC 87, TC 89 △1958년 TC 91, TC 92 △1959년 TC 94 △1960년 TC 96, TC 98 △1961년 TC 101, TC 102, TC 104 등이다.또한 △1962년 TC 105~TC 107 △1963년 TC 108~TC 111 △1964년 TC 112~TC 115, TC 117 △1965년 TC 118 △1966년 TC 119~TC 122 △1967년 TC 123 △1968년 TC 126, TC 127 △1969년 TC 130~136 △1970년 TC 137, TC 138, TC 142, TC 145 △1971년 TC 146, TC 147, TC 148, TC 149, TC 150, TC 153 △1972년 TC 154 △1973년 TC 155 △1974년 TC 156~TC 161 △1975년 TC 162~TC 164 등도 포함된다.그리고 △1976년 TC 165, TC 166 △1977년 TC 167, TC 168, TC 170 △1978년 TC 171, TC 172, TC 173, TC 174 △1979년 TC 176, TC 178 △1980년 TC 180, TC 181 △1981년 TC 182 △1983년 TC 183~TC 186 △1984년 TC 188 △1985년 TC 189, TC 190, TC 191 △1988년 TC 192~TC 194 △1989년 TC 195 △1990년 TC 197, TC 198 등이 있다.ISO/TC 202 미세선속 분석(Microbeam analysis)과 관련된 기술위원회는 TC 199, TC 201와 마찬가지로 1991년 결성됐다. 사무국은 중국 국가표준화관리위원회(国家标准化管理委员会, Standardization Administration of the P. R. C, SAC)에서 맡고 있다.위원회는 닝 자오(Mr Ning Zhao)가 책임지고 있다. 현재 의장은 지앙 자오(Mr Jiang Zhao)이며 임기는 2024년말 까지다.ISO 기술 프로그램 관리자는 스테판 소바(M Stéphane Sauvage), ISO 편집 관리자는 아룬 ABY 파라에카티(Mr Arun ABY Paraecattil) 등이다.범위는 입사빔으로 전자를 사용하고 감지 신호로 전자와 광자를 사용하는 마이크로빔 분석(측정, 매개변수, 방법 및 기준 물질) 분야의 표준화다.참고로 고체재료의 구성 및 구조적 특성을 분석하는 것이 목적이다. 분석량은 일반적으로 최대 10마이크로미터의 깊이와 100제곱마이크로미터 미만의 표면적을 포함한다.현재 ISO/TC 202 사무국과 관련해 발행된 표준은 30개며 ISO/TC 202 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준은 9개다.ISO/TC 202 사무국과 관련해 개발 중인 표준은 5개다. 참여하고 있는 회원은 9개국, 참관 회원은 13개국이다.□ ISO/TC 202 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준 9개 목록▷ISO 5820:2024 Microbeam analysis — Hyper-dimensional data file specification (HMSA)▷ISO 13067:2020 Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size▷ISO 15632:2021 Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use with a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA)▷ISO 20720:2018 Microbeam analysis — Methods of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS▷ISO 22029:2022 Microbeam analysis — EMSA/MAS standard file format for spectral-data exchange▷ISO 22309:2011 Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above▷ISO 23703:2022 Microbeam analysis — Guidelines for misorientation analysis to assess mechanical damage of austenitic stainless steel by electron backscatter diffraction (EBSD)▷ISO 23749:2022 Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Quantitative determination of austenite in steel▷ISO 24173:2024 Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction□ ISO/TC 202 사무국 분과위원회(Subcommittee)의 책임 하에 발행 및 개발 중인 표준 현황▷ISO/TC 202/SC 1 Terminology ; 발행된 표준 3개, 개발 중인 표준 1개▷ISO/TC 202/SC 2 Electron probe microanalysis ; 발행된 표준 8개, 개발 중인 표준 1개▷ISO/TC 202/SC 3 Analytical electron microscopy ; 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 3개▷ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy ; 발행된 표준 4개, 개발 중인 표준 0개
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[특집-기술위원회] TC 201 - 표면 화학 분석(Surface chemical analysis)스위스 제네바에 본부를 두고 있는 국제표준화기구(ISO)에서 활동 중인 기술위원회(Technical Committeee, TC)는 TC 1~TC 323까지 구성돼 있다.기술위원회의 역할은 기술관리부가 승인한 작업범위 내 작업 프로그램 입안, 실행, 국제규격의 작성 등이다. 또한 산하 분과위원회(SC), 작업그룹(WG)을 통해 기타 ISO 기술위원회 또는 국제기관과 연계한다.ISO/IEC 기술작업 지침서 및 기술관리부 결정사항에 따른 ISO 국제규격안 작성·배포, 회원국의 의견 편집 등도 처리한다. 소속 분과위원회 및 작업그룹의 업무조정, 해당 기술위원회의 회의 준비도 담당한다.1947년 최초로 구성된 나사산에 대한 TC 1 기술위원회를 시작으로 순환경제를 표준화하기 위한 TC 323까지 각 TC 기술위원회의 의장, ISO 회원, 발행 표준 및 개발 표준 등에 대해 살펴볼 예정이다.이미 다룬 기술위원회와 구성 연도를 살펴 보면 △1947년 TC 1~TC 67 △1948년 TC 69 △1949년 TC 70~72 △1972년 TC 68 △1950년 TC 74 △1951년 TC 76 △1952년 TC 77 △1953년 TC 79, TC 81 △1955년 TC 82, TC 83 △1956년 TC 84, TC 85 △1957년 TC 86, TC 87, TC 89 △1958년 TC 91, TC 92 △1959년 TC 94 △1960년 TC 96, TC 98 △1961년 TC 101, TC 102, TC 104 등이다.또한 △1962년 TC 105~TC 107 △1963년 TC 108~TC 111 △1964년 TC 112~TC 115, TC 117 △1965년 TC 118 △1966년 TC 119~TC 122 △1967년 TC 123 △1968년 TC 126, TC 127 △1969년 TC 130~136 △1970년 TC 137, TC 138, TC 142, TC 145 △1971년 TC 146, TC 147, TC 148, TC 149, TC 150, TC 153 △1972년 TC 154 △1973년 TC 155 △1974년 TC 156~TC 161 △1975년 TC 162~TC 164 등도 포함된다.그리고 △1976년 TC 165, TC 166 △1977년 TC 167, TC 168, TC 170 △1978년 TC 171, TC 172, TC 173, TC 174 △1979년 TC 176, TC 178 △1980년 TC 180, TC 181 △1981년 TC 182 △1983년 TC 183~TC 186 △1984년 TC 188 △1985년 TC 189, TC 190, TC 191 △1988년 TC 192~TC 194 △1989년 TC 195 △1990년 TC 197, TC 198 등이 있다.ISO/TC 201 표면 화학 분석(Surface chemical analysis)과 관련된 기술위원회는 TC 199와 마찬가지로 1991년 결성됐다. 사무국은 일본 산업표준조사회(日本産業標準調査会, Japanese Industrial Standards Committee, JISC)에서 맡고 있다.위원회는 사토시 곤다(Dr Satoshi Gonda)가 책임지고 있다. 현재 의장은 히데히코 노나카(Dr Hidehiko Nonaka)이다.ISO 기술 프로그램 관리자는 주안우 주(Ms Chuanyu Zou), ISO 편집 관리자는 아룬 ABY 파라에카티(Mr Arun ABY Paraecattil) 등이다.범위는 표면 화학 분석 분야의 표준화다. 표면 화학 분석에는 전자, 이온, 중성 원자 또는 분자, 광자의 빔이 시료 재료에 입사되어 산란되거나 방출된 전자, 이온, 중성 원자 또는 분자, 광자가 감지되는 분석 기술이 포함된다.또한 표면 위로 스캔하는 조사 및 표면 관련 신호를 감지하는 기술도 포함하지만 ISO/TC 202의 범위 내에 있는 주사전자현미경은 제외한다.참고로 현재 표면 화학 분석 기술을 사용하면 분석 정보는 표면에서 가까운 영역(일반적으로 20 nm 이내)의 정보를 얻을 수 있다. 분석 정보 대비 깊이 데이터(analytical information-versus-depth data)는 더 깊은 표면 분석 기술을 사용해 얻을 수 있다.현재 ISO/TC 201 사무국과 관련해 발행된 표준은 81개며 ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준은 8개다.ISO/TC 201 사무국과 관련해 개발 중인 표준은 22개며 ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 개발 중인 표준은 2개다. 참여하고 있는 회원은 13개국, 참관 회원은 12개국이다.□ ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준 8개 목록▷ISO 14706:2014 Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy▷ISO 16413:2020 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting▷ISO 17331:2004 Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy▷ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1▷ISO 18337:2015 Surface chemical analysis — Surface characterization — Measurement of the lateral resolution of a confocal fluorescence microscope▷ISO/TS 18507:2015 Surface chemical analysis — Use of Total Reflection X-ray Fluorescence spectroscopy in biological and environmental analysis▷ISO/TR 19693:2018 Surface chemical analysis — Characterization of functional glass substrates for biosensing applications▷ISO 24465:2023 Surface chemical analysis — Determination of the minimum detectability of surface plasmon resonance device□ ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 개발 중인 표준 2개 목록▷ISO/AWI TR 4550 SCA –Surface chemical analysis of bacteria and biofilms▷ISO/FDIS 23124 Surface chemical analysis — Measurement of lateral and axial resolutions of a Raman microscope□ ISO/TC 201 사무국 분과위원회(Subcommittee)의 책임 하에 발행 및 개발 중인 표준 현황▷ISO/TC 201/SC 1 Terminology ; 발행된 표준 3개, 개발 중인 표준 0개▷ISO/TC 201/SC 2 General procedures ; 발행된 표준 9개, 개발 중인 표준 2개▷ISO/TC 201/SC 3 Data management and treatment ; 발행된 표준 5개, 개발 중인 표준 1개▷ISO/TC 201/SC 4 Depth profiling ; 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 0개▷ISO/TC 201/SC 6 Secondary ion mass spectrometry ; 발행된 표준 12개, 개발 중인 표준 2개▷ISO/TC 201/SC 7 Electron spectroscopies ; 발행된 표준 23개, 개발 중인 표준 5개 ▷ISO/TC 201/SC 8 Glow discharge spectroscopy ; 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 3개▷ISO/TC 201/SC 9 Scanning probe microscopy ; 발행된 표준 8개, 개발 중인 표준 4개▷ISO/TC 201/SC 10 X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis ; 발행된 표준 1개, 개발 중인 표준 3개
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[특집-ISO/IEC JTC 1/SC 17 활동] ③ISO/IEC 지침-파트1 통합 JTC 1 보충 자료 2023 배포지난 10월3일 ISO/IEC 공동기술위원회 산하 분과위원회 SC 17은 ISO/IEC CD 17839-2.3 관련 문서를 배포했다.ISO/IEC JTC 1/SC 17 카드 및 개인 식별을 위한 보안 장치(Cards and security devices for personal identification)는 국제표준화기구(ISO와 국제전기기술위원회(IEC)의 공동 기술 위원회(JTC) ISO/IEC JTC 1의 표준화 분과위원회다.ISO/IEC JTC 1/SC 17의 국제사무국은 영국에 위치한 영국표준협회(BSI)이며 신분증 및 개인 식별 분야 표준을 개발하고 촉진하는 역할을 담당하고 있다.배포된 문서는 'ISO/IEC JTC 1 N16556 Consolidated JTC 1 Supplement 2023'이다. ISO/IEC 지침-파트 1, 통합 JTC 1 보충 자료 2023 - JTC 1 관련 절차(Consolidated JTC 1 Supplement2023—Procedures specific to JTC 1)는 국제 표준 및 기타 문서 개발 시 아래 기본 원칙을 보호하기 위한 기술 작업 절차를 정의하고 있다. 세부적으로 살펴보면 △투명성 △개방성 △공정성 및 합의성 △효율성 및 관련성 △일관성 등이다. SO/IEC 지침은 5가지 문서로 구성돼 있다. ▷ISO/IEC 지침, 파트 1 = 국제 표준 및 기타 문서 개발을 위해 ISO 및 IEC 위원회에 적용되는 기술 작업에 대한 ISO 및 IEC 공통 절차를 설명함.▷ISO 보충 자료 = 국제 표준 및 기타 문서 개발을 위해 ISO 위원회에 적용되는 기술 작업에 대한 ISO 특정 절차를 설명.▷IEC 보충 자료 = 국제 표준 및 기타 문서 개발을 위해 IEC 위원회에 적용되는 기술 작업에 대한 IEC 특정 절차를 설명.▷JTC 1 보충 자료 = 국제 표준 및 기타 문서 개발에만 JTC 1에 적용할 수 있는 기술에 대한 ISO/IEC 공동 기술 위원회 1(JTC 1) 특정 절차를 설명.▷ISO, IEC 및 ISO/IEC JTC 1의 각 웹사이트 = 기술 작업에 참여하는 개인을 위한 보충 지침과 도구를 제공.JTC 1이 ISO/IEC 지침 및 통합 JTC 1 보충 자료를 보완하기 위해 SD(Standing Documents)와 같은 추가 문서를 참조할 필요가 있다.참고로 ISO-CEN 기술 협력 협정에 따라 CEN과 협력하는 위원회의 경우 비엔나 협정이 적용된다. IEC-CENELEC 기술 협력 협정에 따라 CENELEC와 협력하는 위원회의 경우 프랑크푸르트 협정이 적용된다. ISO/IEC Directives Part 1 Edition, 2023 문서 목차는 다음과 같다.Contents : Significant updates since the last edition 1.Organizational structure and responsibilities for the technical work 1.1 Role of the technical management board 1.2 Advisory groups to the technical management board 1.4 Role of the Chief Executive Officer 1.5 Establishment of technical committees 1.6 Establishment of subcommittees 1.7 Participation in the work of technical committees and subcommittees 1.8 Chairs of technical committees and subcommittees 1.9 Secretariats of technical committees and subcommittees 1.10 Project committees 1.11 Editing committees 1.12 Working groups 1.13 Groups having advisory functions within a committee. 1.14 Ad hoc groups 1.15 Liaison between committees 1.16 Liaison between ISO and IEC 1.17 Liaison with other organizations2. Development of International Standards 2.1 The project approach 2.2 Preliminary stage 2.3 Proposal stage 2.4 Preparatory Stage 2.5 Committee stage 2.6 Enquiry stage 2.7 Approval stage 2.8 Publication stage 2.9 Maintenance of documents 2.10 Corrections and amendments 2.11 Maintenance agencies 2.12 Registration authorities 2.13Copyright 2.14 Reference to patented items (see also AnnexI)3 Development of other documents 3.1 Technical Specifications 3.2 Publicly Available Specifications (PAS) 3.3 Technical Reports4 Meetings 4.1 General 4.2 Procedure for calling a meeting 4.3 Languages at meetings 4.4 Cancellation of meetings5 Appeals 5.1 General 5.3Appeal against a technical committee decision 5.4Appeal against a technical management board decision 5.5Progress of work during an appeal process
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[특집-기술위원회] TC107 - 금속 및 기타 무기 코팅(Metallic and other inorganic coatings)스위스 제네바에 본부를 두고 있는 국제표준화기구(ISO)에서 활동 중인 기술위원회(Technical Committeee, TC)는 TC1~TC323까지 구성돼 있다.기술위원회의 역할은 기술관리부가 승인한 작업범위 내 작업 프로그램 입안, 실행, 국제규격의 작성 등이다. 또한 산하 분과위원회(SC), 작업그룹(WG)을 통해 기타 ISO 기술위원회 또는 국제기관과 연계한다.ISO/IEC 기술작업 지침서 및 기술관리부 결정사항에 따른 ISO 국제규격안 작성·배포, 회원국의 의견 편집 등도 처리한다. 소속 분과위원회 및 작업그룹의 업무조정, 해당 기술위원회의 회의 준비도 담당한다.1947년 최초로 구성된 나사산에 대한 TC1 기술위원회를 시작으로 순환경제를 표준화하기 위한 TC323까지 각 TC 기술위원회의 의장, ISO 회원, 발행 표준 및 개발 표준 등에 대해 살펴볼 예정이다.이미 다룬 기술위원회와 구성 연도를 살펴 보면 △1947년 TC1~TC67 △1948년 TC 69 △1949년 TC 70~72 △1972년 TC68 △1950년 TC74 △1951년 TC76 △1952년 TC77 △1953년 TC79, TC81 △1955년 TC82, TC83 △1956년 TC84, TC85 △1957년 TC86, TC87, TC89 △1958년 TC91, TC92 △1959년 TC94 △1960년 TC96, TC98 △1961년 TC101, TC102, TC 104등 이다.ISO/TC 107 금속 및 기타 무기 코팅(Metallic and other inorganic coatings)과 관련된 기술위원회는 TC 105, TC 106과 마찬가지로 1962년 결성됐다. 사무국은 한국국가기술표준원(Korean Agency for Technology and Standards, KATS)에서 맡고 있다.위원회는 최진혁(Dr Jinhyuk Choi)이 책임지고 있다. 현재 의장은 권식철(Dr Sik-Chol Kwon)로 임기는 2023년까지다.ISO 기술 프로그램 관리자는 스테판 소바쥬(M Stéphane Sauvage), ISO 편집 관리자는 ISO Editing Team 등으로 조사됐다.범위는 전기 분해, 융합, 진공 또는 화학적 수단, 기계적 증착, 이온 도금을 통해 적용되는 보호 및 장식 금속 코팅 특성의 표준화다.또한 전기 분해, 융합, 진공 또는 화학적 수단을 통해 적용되는 금속 표면의 보호 및 장식용 비금속 코팅(페인트 및 기타 유기 코팅 제외)의 특성도 포함된다.이러한 코팅에 대한 테스트 및 검사 방법의 표준화 뿐 아니라 금속 및 무기 코팅을 증착하기전 기판 준비에 관한 표준화도 포함된다.현재 ISO/TC 107 사무국과 관련해 발행된 표준은 162개며 ISO/TC 107 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준은 103개다. ISO/TC 107 사무국과 관련해 개발 중인 표준은 12개며 ISO/TC 107 사무국의 직접적인 책임 하에 개발 중인 표준은 8개다. 참여하고 있는 회원은 22명, 참관 회원은 24명이다.□ ISO/TC 107 사무국의 직접적인 책임하에 발행된 표준 103개 중 15개 목록▷ISO 1463:2021 Metallic and oxide coatings — Measurement of coating thickness — Microscopical method▷ISO 2063-1:2019 Thermal spraying — Zinc, aluminium and their alloys — Part 1: Design considerations and quality requirements for corrosion protection systems▷ISO 2063-2:2017 Thermal spraying — Zinc, aluminium and their alloys — Part 2: Execution of corrosion protection systems▷ISO 2064:1996 Metallic and other inorganic coatings — Definitions and conventions concerning the measurement of thickness▷ISO 2080:2022 Metallic and other inorganic coatings — Surface treatment, metallic and other inorganic coatings — Vocabulary▷ISO 2177:2003 Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Coulometric method by anodic dissolution▷ISO 2178:2016 Non-magnetic coatings on magnetic substrates — Measurement of coating thickness — Magnetic method▷ISO 2360:2017 Non-conductive coatings on non-magnetic electrically conductive base metals — Measurement of coating thickness — Amplitude-sensitive eddy-current method▷ISO 2361:1982 Electrodeposited nickel coatings on magnetic and non-magnetic substrates — Measurement of coating thickness — Magnetic method▷ISO 2746:2015 Vitreous and porcelain enamels — High voltage test▷ISO 2747:1998 Vitreous and porcelain enamels — Enamelled cooking utensils — Determination of resistance to thermal shock▷ISO 2819:2017 Metallic coatings on metallic substrates — Electrodeposited and chemically deposited coatings — Review of methods available for testing adhesion▷ISO 3497:2000 Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods▷ISO 3543:2000 Metallic and non-metallic coatings — Measurement of thickness — Beta backscatter method▷ISO 3543:2000/Cor 1:2003 Metallic and non-metallic coatings — Measurement of thickness — Beta backscatter method — Technical Corrigendum 1□ ISO/TC 107 사무국의 직접적인 책임하에 개발 중인 표준 8개 목록▷ISO/FDIS 3882 Metallic and other inorganic coatings — Review of methods of measurement of thickness▷ISO 8181 Atomic layer deposition — Vocabulary▷ISO/FDIS 14919 Thermal spraying — Wires, rods and cords for flame and arc spraying — Classification and technical supply conditions▷ISO 14920 Thermal spraying — Spraying and fusing of self-fluxing alloys▷ISO/AWI 21452 Specification and requirements of thermal spray coatings for power plant boiler tubes▷ISO/AWI 21456 Determination of the residual stress of TGO layer in thermal barrier coating by photoexcitation fluorescence piezoelectric spectroscopy▷ISO/AWI 21465 Test method for CMAS corrosion of thermal/environmental barrier coatings under dynamic thermal cycling▷ISO/DIS 28721-2 Vitreous and porcelain enamels — Glass-lined apparatus for process plants — Part 2: Designation and specification of resistance to chemical attack and thermal shock□ ISO/TC 107 사무국의 소위원회(Subcommittee)의 책임하에 발행 및 개발 중인 표준 현황▷ISO/TC 107/SC 3 Electrodeposited coatings and related finishes : 발행된 표준 26개, 개발 중인 표준 3개▷ISO/TC 107/SC 4 Hot dip coatings (galvanized, etc.) : 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 0개▷ISO/TC 107/SC 7 Corrosion tests : 발행된 표준 15개, 개발 중인 표준 0개▷ISO/TC 107/SC 8 Chemical conversion coatings : 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 1개▷ISO/TC 107/SC 9 Physical vapor deposition coatings : 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 0개
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[벨기에] 집행위원회(EC), 2019 저작권 지침을 바꾸지 않은 국가 13개유럽연합 집행위원회(European Commission)에 따르면 저작권 지침(Copyright Directive)을 바꾸지 않은 국가가 13개에 달하는 것으로 드러났다.집행위원회는 2019년 온라인 플랫폼의 부상에 따라 저작권법을 개정했다. 2022년 4월 기준 현재까지 12개 국가만이 해당 저작권 지침을 준수하고 있다.12개 국가 중 독일, 헝가리, 네델란드 등 3개 국가가만 2021년 6월 7일 마감 시한을 맞췄다. 몰타는 최종 시한을 조금 넘긴 후에 자국의 저작권법을 개정했다.나머지 13개국인 벨기에, 불가리아, 사이프러스, 덴마크, 그리스, 프랑스, 라트비아, 폴란드, 포르투갈, 슬로베니아, 슬로바키아, 필란드, 스웨덴은 자국의 저작권법을 수정하지 않았다.불가리아, 사이프러스, 그리스, 아일랜드, 라트비아, 폴란드, 슬로베니아, 슬로바키아, 핀란드는 저작권 지침을 따르지 않은 이유를 제시했다.2019년 저작권 지침은 제15조로 인해 촉발된 언론사와 온라인 플랫폼의 분쟁을 다룬다. 온라인 플랫폼이 언론사의 콘텐츠를 서비스할 경우에 정당한 보상을 어떻게 지급할 것인지 판단이 어렵다.또한 17조는 온라인 플랫폼에 저작권을 확보하지 않은 콘텐츠에 대한 책임 소재에 관한 규정이다. 필수적인 규정을 준수하지 않은 콘텐츠를 자동으로 제거할 수 있는지 여부가 쟁점이다.2022년 4월 유럽연합 사법재판소(Court of Justice)는 폴란드 바르샤바에서 제기된 사건을 다뤘다. 플랫폼이 법률 콘텐츠를 실수로 삭제해 언론의 자유를 위험하게 했다는 주장이다.법원은 사용자의 표현과 정보의 자유에 대한 잠재적 침해 위험을 인식했지만 제17조를 들어 충분한 안전조치가 실행되고 있다고 판단했다. 제17조를 적용함에 있어서 일부 혼란은 있지만 국가 차원에서 적용이 주요한 변수라고 봤다.집행위원회는 최대한 빠른 시일 내에 2019년 저작권 지침을 따르지 않는 국가들에 대해 도입을 촉구하고 있다. 또한 향후 2개월 이내에 저작권 지침을 따르지 않은 이유를 제시하라고 요청했다.
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[독일] 프레시포인트, 의료기기 품질시스템 국제 표준 ISO 13485 인증 획득독일 현미경 디지털 솔루션 기업 프레시포인트(PreciPoint)에 따르면 의료기기 품질시스템 국제 표준 ISO 13485 인증을 획득했다.프레시포인트는 의학, 연구 및 교육 분야에서 현미경 및 실험실 프로세스의 디지털화를 위한 솔루션을 제공하며 제품개발을 위해 많은 병리학과와 협력하고 있다.연구 결과를 가시화하면서 실험실 프로세스를 단순화하는 장치를 개발하고 있다. 수술 중 환자의 신체에서 충분한 물질이 제거됐는지 여부와 수술 부위의 가장자리에 암세포가 없는지를 확인하기 위한 검사가 필요하다.올해에는 암 수술 중 검사의 디지털화를 위한 솔루션인 iO:M8 ROSE를 출시했다. 현미경 솔루션은 디지털 방식의 작업을 가능해 비용을 절감하고 전문가 간에 데이터 교환을 더 빠르게 만든다.병리학 전문가가 부족하고 암 진단 사례가 증가하고 있기 때문에 이와 같은 검사의 디지털 솔루션은 필수적이다.의료기기 품질시스템 국제 표준 ISO 13485:2016 인증을 통해 의료 분야의 더 많은 고객에게 제품을 공급하기 위한 요구 사항이 충족된 것으로 평가된다.
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전자현미경 종합성능평가 개막, 국내 기업에 날개 단다한국표준과학연구원(원장 박현민, 이하 KRISS)이 전자현미경 성능을 좌우하는 핵심장비인 고성능 에너지 분석기의 개발에 성공했다. 국내 장비회사 대상 시험서비스를 제공해 첨단 현미경 산업 생태계 육성에 기여할 전망이라고 밝혔다. ▲KRISS 연구장비성능평가팀 (사진 좌측부터 황준혁 UST-KRISS 스쿨 박사과정생, 오가와 타카시 책임연구원, 박인용 팀장, 이하림 post-doc 연구원) / 사진 제공 : KRISS 전자현미경의 성능은 전자빔을 만들어내는 전자원의 특성에 달려 있다. 전자원에서 생성되는 전자빔으로 렌즈에 초점을 맞춰 대상을 관찰하기 때문이다. 아주 작은 대상에도 정밀하게 초점을 맞추려면 전자빔을 구성하는 전자 입자들의 에너지 분포가 균일해야 한다. 따라서 고성능의 전자현미경을 개발하기 위해서는 전자빔의 에너지 분포가 얼마나 균일한지 보여주는 에너지 폭을 정확히 측정하는 것이 중요하다. ▲박인용 연구장비성능평가팀장이 전자원의 에너지 폭 측정을 준비하고 있는 모습 / 사진 제공 : KRISS 그동안 국내 다수의 기업들이 전자현미경 개발에 성공했지만 에너지 폭 측정에 사용할 정밀 에너지 분석기가 없어 실측값 대신 문헌상의 수치를 참고했다. 이 방식으로는 개별 현미경 간의 미세한 성능 차이를 확인하기 어려워 제품의 성능 검증에 한계가 있다. 현재 국산화된 텅스텐 필라멘트 범용 전자현미경을 넘어, 고성능·고부가 전자현미경 시장에 진출하기 위해서는 에너지 폭 측정 기술이 반드시 필요하다. KRISS 연구진은 2019년 자체 시물레이션을 기반으로 설계기술을 확보해 2022년 렌즈방식 지연전위 에너지 분석기의 실물 개발에 성공했다. 제작비용이 수백만 원 정도로 저렴하면서도 13.8 meV(밀리전자볼트) 수준의 미세한 에너지 차이를 구분할 수 있는 축정 분해능을 갖췄다. 고가의 주사전자현미경 등 최첨단 연구 장비의 성능평가에 활용할 수 있는 수준이다. 크기가 60 mm로 작아, 독립적인 분석기로 사용할 뿐 아니라 현미경 안에 부착해 전자원 성능평가가 가능한 일체형 현미경을 개발하는 데도 사용할 수 있다. ▲렌즈방식 지연전위 에너지 분석기 원리 / 사진 제공 : KRISS 지금까지 개발된 에너지 분석기는 크게 두 가지다. 반구형 에너지 분석기는 측정 분해능이 우수하지만 가격이 수억 원에 달하고 크기도 약 700 mm로 간편하게 활용하기 어렵다. 그리드 전극 방식 지연전위 에너지 분석기는 크기가 작고 가격도 저렴하지만 분해능이 300 meV 이상으로 측정성능이 낮아 성능평가에 부적합하다. KRISS는 이번 성과로 기존에 운영하던 전자원의 각전류밀도 측정 시험에 더해, 전자원의 에너지 폭 측정 플랫폼을 구축해 8월부터 국내 기업체를 대상으로 시험서비스를 시작했다. 올해 안에 자기장, 소음, 진동 등의 영향에 따른 전자현미경의 영상 분해능 성능평가 플랫폼도 추가로 구축해 종합적인 시험서비스를 제공할 예정이다. KRISS 박인용 연구장비성능평가팀장은 “고성능 전자현미경은 소재, 부품, 바이오 등 다방면에서 필수적인 장비임에도 기술 자립도가 낮았던 것이 현실”이라며, “이번 성과를 계기로 전자현미경의 부품부터 전체 시스템까지 아우르는 종합성능평가 플랫폼을 마련해 국내 기업의 고성능 현미경 시장 진출을 적극 지원할 것”이라고 밝혔다. KRISS 기본사업과 과학기술정보통신부 미래선도연구장비 핵심기술개발사업의 지원을 받은 이번 연구의 성과는 마이크로스코피 앤 마이크로애널리시스(Microscopy and Microanalysis, IF: 4.099)에 9월 게재됐다.